易于在任意波长下测量固体、薄膜、液晶和液体的折射率。
多波长阿贝折射仪
DR-M系列
DR-M2
在450～1100nm内改变波长，可以测量折射率·阿贝数（vd，ve）。
DR-M4
在450～1100nm内改变波长，可以测量折射率·阿贝数（vd，ve）。
DR-M2/1550
是能测量到DR-M2的1550nm的模型。
DR-M4/1550
是能测量到DR-M4的1550nm的模型。
多波长阿贝折射仪DR-M2
特点
可变更波长1100nm域对应模型
本仪器可在450～1100nm内改变波长，测量折射率·阿贝数（νd，νe）。
如果附带光源、干涉滤镜，将样品放置在棱镜面上，使折射视场的边界线与交叉线的交点对齐，则测量值将被数字显示。
另外，也可以与打印机（可选）连接。
规格
测量范围折射率：1.3278～1.7379（450nm）
折射率：1.3000～1.7100（589nm）
折射率：1.2912～1.7011（680nm）
折射率：1.2743～1.6840（1100 nm）
测量精度折射率：±0.0002
（附带的测试件500～650nm）
TRUSCO 中山
http://www.trusco168.cn/news/list-5.html
